較常用的光譜儀（薄膜）樣品杯SC-3345

簡(jiǎn)要描述：為了對(duì)樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備（金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動(dòng)平臺(tái)、固定臺(tái)等）進(jìn)行匹配，購(gòu)買樣品杯前請(qǐng)告知您使用過(guò)的樣品杯型號(hào)（CAT. NO），或X熒光光譜儀品牌和型號(hào)，或請(qǐng)直接測(cè)量?jī)x器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。較常用的光譜儀（薄膜）樣品杯SC-3345

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更新時(shí)間：2024-05-15
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XRF樣品杯/樣品膜

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詳細(xì)介紹

XRF樣品測(cè)試杯規(guī)格、射線熒光樣品器、土壤樣品杯、美國(guó)Premier樣品杯SC-3345

一、美國(guó)Premier XRF樣品杯：

美國(guó)Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。

Premier XRF樣品杯能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

為了對(duì)樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設(shè)備（金屬樣本杯、旋轉(zhuǎn)盤、滑動(dòng)平臺(tái)、固定臺(tái)等）進(jìn)行匹配，購(gòu)買樣品杯前請(qǐng)告知您使用過(guò)的樣品杯型號(hào)(CAT. NO)，或X熒光光譜儀品牌和型號(hào)，或請(qǐng)直接測(cè)量?jī)x器樣品夾持設(shè)備的內(nèi)徑、高度和孔徑。

品名：XRF樣品杯Sample Cups

型號(hào)： CAT. NO SC-3345

品牌：美國(guó)Premier Lab （*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1包以上（100個(gè)/包）。

二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。